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上海測宇科學儀器科技有限公司

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晶體取向

  單晶成為研究眾多科技產(chǎn)品的基礎(chǔ)。單晶的電子特性是半導體工業(yè)的關(guān)鍵而單晶的磁學性質(zhì)是磁性存貯設(shè)備性能的關(guān)鍵。單晶的機械和化學特性是材料科學進步的基礎(chǔ)。大多情況下,單晶的特性不僅在于晶體性質(zhì)和質(zhì)量,更依賴于其取向。單晶取向測定是單晶應(yīng)用技術(shù)中必不可少的一步。目前,X射線衍射儀成為確定晶體取向常用的方法。

系統(tǒng)

  • 智能XRD: SmartLab?
  • 高性能XRD: Ultima IV